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薄膜厚度測厚儀的原理和標準

時(shí)間:2020-05-10 發(fā)布:草莓樱桃丝瓜绿巨人秋葵污绿巨人儀器

  薄膜厚度測厚儀的(de)原理
將預先處理好(hǎo)的薄型試樣的一麵置於(yú)下測(cè)量麵上,與下(xià)測量(liàng)麵平行且中心對齊的上測量(liàng)麵。
以一定的壓力,落到薄型試樣的另一麵上,同測量頭一體(tǐ)的(de)傳感器自動檢測出(chū)上下測量麵之間(jiān)的距離,即(jí)為薄型試樣的厚度。
  薄膜(mó)厚度測(cè)厚儀(yí)的標準

ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、

ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

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